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日本島津--EDX系列

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產(chǎn)品名稱(chēng)：ROHS測(cè)試儀EDX

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2020-03-24

產(chǎn)品特點(diǎn)：ROHS測(cè)試儀EDX:X射線(xiàn)熒光分析法，測(cè)定方法：能量色散型，測(cè)定對(duì)象：固體、液體、粉末，測(cè)定范圍：11Na~92U，樣品室尺寸：大300（W）x275（D）x約100（H）mm（但是不包括R部分）

產(chǎn)品詳細(xì)資料：

ROHS測(cè)試儀EDX:滿(mǎn)足所有領(lǐng)域不同的應(yīng)用

■電子·電氣
·RoHS指令、無(wú)鹵素等篩選分析
·半導(dǎo)體、存儲(chǔ)裝置、液晶、太陽(yáng)能電池等各種薄膜分析

■汽車(chē)·機(jī)械
· 應(yīng)對(duì)ELV指令的篩選分析
· 各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測(cè)

■鋼鐵·非金屬
· 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析
· 爐渣的組成分析

■礦業(yè)
· 選礦工藝的成色鑒別分析

■窯業(yè)
· 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析

■石油·石油化學(xué)
· 油中硫元素的分析
· 潤(rùn)滑油中各種添加元素及混入元素的分析

■化學(xué)工業(yè)
·無(wú)機(jī)·有機(jī)原料和產(chǎn)品分析
·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析

■環(huán)境
· 土壤、排水、焚燒灰、過(guò)濾、PM2.5等成分分析

■醫(yī)藥
· 合成時(shí)的殘留催化劑分析
· 原藥中不純物分析、異物分析

■農(nóng)業(yè)·食品
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析

■其它
· 考古學(xué)樣品及寶石成分分析
玩具·日用品中有害重金屬元素測(cè)定等

ROHS測(cè)試儀EDX裝置規(guī)格

型號(hào)規(guī)格	EDX-7000	EDX-8000
測(cè)定原理	X射線(xiàn)熒光分析法
測(cè)定方法	能量色散型
測(cè)定對(duì)象	固體、液體、粉末
測(cè)定范圍	11Na~92U	6C~92U
樣品室尺寸	大300(W)x275(D)x約100(H)mm(但是不包括R部分)
大樣品重量	5kg(使用樣品轉(zhuǎn)臺(tái)時(shí)200g/樣品，總重量2.4kg)
X射線(xiàn)發(fā)生部
X射線(xiàn)管	Rh靶
電壓	4~50kV
電流	1~1000uA
冷卻方式	風(fēng)冷(附風(fēng)扇)
照射面積	1、3、5、10mmΦ：4種自動(dòng)切換
1次濾光片	5種(含OPEN為6種)自動(dòng)切換
檢測(cè)器
類(lèi)型	硅漂移檢測(cè)器(SDD)
液態(tài)氟供給	不要(電子制冷)
樣品室
測(cè)定環(huán)境	大氣、真空1、氦氣2
樣品交換	12位樣品轉(zhuǎn)臺(tái)*1
樣品觀(guān)察	CMOS圖像裝置
數(shù)據(jù)處理部
內(nèi)存	2GB以上(32位)、4GB以上(64位)
HDD	250GB
光學(xué)驅(qū)動(dòng)	多媒體光驅(qū)
OS	Windows 7 (32位/64位)
軟件
定性分析	測(cè)定、解析軟件
定量分析	工作曲線(xiàn)法、共存元素校正 FP法、薄膜FP法、背景FP法
匹配軟件	強(qiáng)度/含量
更多功能	自動(dòng)校正功能(能量校正、半高寬校正)
儀器狀態(tài)跟蹤功能	√
分析結(jié)果制表功能	√
環(huán)境設(shè)置
溫度	10~30℃(溫度變化2℃/hr以?xún)?nèi)、溫度變化幅度在10℃以下)
相對(duì)濕度	40~70%(但不得有結(jié)露)
電源	AC100V~240V±10%、帶地線(xiàn)插座
主機(jī)尺寸	460(W)x590(D)x360(H)mm
主機(jī)重量	約45kg

檢測(cè)元素范圍

·遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標(biāo)準(zhǔn)
遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。
● 安全功能
● 用戶(hù)管理功能
● 操作日志，逐位跟蹤日志的生成功能
● PDF生成功能
● 驗(yàn)證功能

安全功能
通過(guò)ID/密碼進(jìn)行用戶(hù)認(rèn)證，對(duì)具有權(quán)限的用戶(hù) 開(kāi)放操作履歷記錄、界面鎖定等功能。

逐位跟蹤日志的生成功能
可以生成分析裝置設(shè)定更改履歷和用戶(hù)的操作履歷等跟蹤日志。

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EDX-7000/8000 Energy Dispersive X-Ray Florescence Spectrometer for RoHS Analysis

Incorporating a new high-performance semiconductor detector, high end EDX-7000/8000 spectrometers offer excellent sensitivity, resolution, and throughput for an array of applications, from general screening analysis to advanced materials research.

The EDX-7000 provides a measurement range of 11Na to 92U, while the EDX-8000 has a range of 6C to 92U. Both systems are equipped with five primary filters that enable highly sensitive analysis of trace elements and a sample observation camera for precise sample positioning. A large sample chamber accommodates virtually any sample type small or large, including thin films, powders, slurries, emulsions and liquids.